Diferencia entre revisiones de «Cristalografía de rayos X»
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==== Método de Laue ====
[[Archivo:Laue-Cubic-Disoriented.PNG|thumb|Patrón de difracción obtenido por el método de Laue en transmisión: las reflexiones dispuestas a lo largo de una curva son generadas por una misma longitud de onda.]]
Consiste en hacer incidir en un cristal un espectro continuo de rayos X, de tal manera que para cada longitud de onda se cumple la ley de Bragg para diferentes puntos de la red recíproca. Esto posibilita medir todas o casi todas la reflexiones sin cambiar la orientación del cristal. Existen dos variantes del método de Laue: transmisión y reflexión. En el método de Laue por transmisión, el cristal se emplaza entre la fuente de rayos X y el detector. En método de reflexión, el detector se encuentra entre la fuente y el cristal, para detectar los haces difractados hacia atrás.<ref name=matter>{{Cita web|url=http://www.matter.org.uk/diffraction/x-ray/laue_method.htm|título=The Laue method|editorial=Matter, [[Universidad de Liverpool]]|fecha=25 de julio de 2000|fechaacceso=27 de marzo de 2012|urlarchivo=https://web.archive.org/web/20120531065245/http://www.matter.org.uk/diffraction/x-ray/laue_method.htm|fechaarchivo=31 de mayo de 2012}}</ref>
A pesar de ser el método utilizado en los primeros experimentos cristalográficos, el método de Laue se usaba muy poco para la determinación de estructuras debido principalmente a la baja intensidad de la radiación de espectro continua producida por los tubos de rayos X en comparación con la emisión característica monocromática. El creciente uso de la radiación sincrotrón ha fomentado el resurgimiento del método. La capacidad de medir todos los datos necesarios para la determinación de la estructura en un corto tiempo lo convierte en el método más apropiado para el estudio de [[reacción química|reacciones químicas]] que tienen lugar en pocos segundos, como [[catálisis]] por [[enzima]]s y [[zeolita]]s y los efectos de perturbaciones causadas por campos eléctricos, cambios de [[presión]] y [[temperatura]], etc. en diversos materiales.{{Harvnp|Helliwell|1992|p=276}}
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