Existen varios tipos de detectores usados en los experimentos de cristalografía. El detector bidimensional más usado durante mucho tiempo fue la [[película fotográfica]], actualmente reemplazada por otros detectores más sensibles a los rayos X. Otro detector clásico es el [[contador proporcional]] unidimensional, normalmente un [[Centelleador|detector de centelleo]], instalado en un difractómetro y controlado por ordenador. Este tipo de detector mide las reflexiones una a una y todavía se usa para la cristalografía de moléculas pequeñas, pero es poco eficaz en los experimentos con macromoléculas, donde el número de reflexiones ronda entre 10 000 y 100 000.{{Harvnp |Drenth|1999|p=35}}
A partir de los años 1990 empezaron a aparecer nuevos detectores, como las «placas de imagen» (''image plates''). Las placas de imagen están recubiertas de un material [[fosforescencia|fosforescente]], donde los electrones incrementan su energía al absorber los rayos X difractados y son atrapados en este nivel en [[centro de color|centros de color]]. Los electrones liberan la energía al iluminarse la placa con [[láser|luz láser]], emitiendo luz con intensidad proporcional a la de la reflexión. Estos detectores son un orden de magnitud más sensibles que la película fotográfica y poseen un [[Rango dinámico|margen dinámico]] superior en varios órdenes de magnitud, lo que facilita la medición simultánea de las reflexiones más intensas y las más débiles. Otros detectores usados en la actualidad son detectores electrónicos, conocidos como detectores «de área», que procesan la señal inmediatamente tras la detección de los rayos X. Pueden ser [[cámara de ionización|cámaras de ionización]] o una placa fosforescente acoplada a una cámara [[CCD]].{{Harvnp |Drenth|1999|pp=34-35}} En los años 2000 se empezaron a utilizar [[Diodo PIN|fotodiodos]] alineados formando una placa, denominados PAD (''Pixel Array Detectors''). Estos detectores se caracterizan por un gran margen dinámico y un tiempo muerto entre imágenes muy bajo, del orden de milisegundos.<ref>{{cita publicación|título=A Pixel-Array Detector for Time-Resolved X-ray Diffraction|nombre=E F |apellidos=Eikenberry|nombre2= S L |apellidos2=Barna |nombre3=M W |apellidos3=Tate | nombre4=G |apellidos4=Rossi|nombre5= R L |apellidos5=WixtedP J Sellin|nombre6= S M |apellidos=Gruner|publicación=Journal of Synchrotron Radiation |año=1998|Volumen = 5 |páginas= 252-255
[[Rango dinámico|margen dinámico]] superior en varios órdenes de magnitud, lo que facilita la medición simultánea de las reflexiones más intensas y las más débiles. Otros detectores usados en la actualidad son detectores electrónicos, conocidos como detectores «de área», que procesan la señal inmediatamente tras la detección de los rayos X. Pueden ser [[cámara de ionización|cámaras de ionización]] o una placa fosforescente acoplada a una cámara [[CCD]].{{Harvnp |Drenth|1999|pp=34-35}} En los años 2000 se empezaron a utilizar [[Diodo PIN|fotodiodos]] alineados formando una placa, denominados PAD (''Pixel Array Detectors''). Estos detectores se caracterizan por un gran margen dinámico y un tiempo muerto entre imágenes muy bajo, del orden de milisegundos.<ref>{{cita publicación|título=A Pixel-Array Detector for Time-Resolved X-ray Diffraction|nombre=E F |apellidos=Eikenberry|nombre2= S L |apellidos2=Barna |nombre3=M W |apellidos3=Tate | nombre4=G |apellidos4=Rossi|nombre5= R L |apellidos5=WixtedP J Sellin|nombre6= S M |apellidos=Gruner|publicación=Journal of Synchrotron Radiation |año=1998|Volumen = 5 |páginas= 252-255
