Diferencia entre revisiones de «Cristalografía de rayos X»

Los rayos XXXX son difractados por los [[electrón|electrones]] que rodean los átomos por ser su [[longitud de onda]] del mismo orden de magnitud que el [[radio atómico]]. El haz de rayos XXXX emergente tras esta interacción contiene información sobre la posición y tipo de átomos encontrados en su camino. Los cristales, gracias a su estructura periódica, [[Teoría de la dispersión|dispersan elásticamente]] los haces de rayos X en ciertas direcciones y los amplifican por [[interferencia constructiva]], originando un patrón de [[difracción]].<ref group=n.>El término 'difracción de rayos X' se utiliza a menudo para referirse a la aplicación de este fenómeno a la cristalografía; sin embargo, es posible observar difracción por materiales no cristalinos. Por ejemplo, la estructura de la doble hélice de ADN se elucidó por primera vez usando datos de difracción de rayos X por fibras deshidratadas de ADN.</ref> Existen varios tipos de detectores especiales para observar y medir la intensidad y posición de los rayos X difractados, y su análisis posterior por medios matemáticos permite obtener una representación a escala atómica de los átomos y moléculas del material estudiado.