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Archivo:ZEISS Crossbeam 550- Your FIB-SEM for High Throughput 3D Analysis and Sample Preparation (33411552526).jpg

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Resumen

Descripción
English: With ZEISS Crossbeam you benefit from a 3D nano-workstation: combine imaging and analytical performance of a field emission scanning electron microscope (FE-SEM) with the processing ability of a focused ion beam (FIB). For milling, imaging or when performing 3D analytics.
हिन्दी: इस फ़ाइल में अतिरिक्त जानकारी शामिल है जैसे कि Exif मेटाडेटा जो डिजिटल कैमरा, स्कैनर, या सॉफ्टवेयर प्रोग्राम द्वारा इसे बनाने या डिजिटाइज़ करने के लिए उपयोग किया गया हो सकता है। यदि फ़ाइल को उसकी मूल स्थिति से संशोधित किया गया है, तो टाइमस्टैम्प जैसे कुछ विवरण पूरी तरह से मूल फ़ाइल को प्रतिबिंबित नहीं कर सकते हैं। टाइमस्टैम्प केवल कैमरे में घड़ी के रूप में सटीक है, और यह पूरी तरह से गलत हो सकता है।
Fecha
Fuente ZEISS Crossbeam 550: Your FIB-SEM for High Throughput 3D Analysis and Sample Preparation
Autor ZEISS Microscopy from Germany

Images donated as part of a GLAM collaboration with Carl Zeiss Microscopy - please contact Andy Mabbett for details.

Licencia

w:es:Creative Commons
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Esta imagen fue publicada en Flickr por ZEISS Microscopy en https://flickr.com/photos/75834543@N06/33411552526. La imagen fue revisada el 15 de abril de 2017 por el robot FlickreviewR y confirmó tener licencia bajo los términos de cc-by-2.0.

15 de abril de 2017

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actual22:54 15 abr 2017Miniatura de la versión del 22:54 15 abr 20175717 × 4940 (1,65 MB)PigsonthewingTransferred from Flickr via Flickr2Commons

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