Diferencia entre revisiones de «Interferometría de moteado»
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El patrón speckle es producido al iluminar una superficie difusora con luz coherente. La interferencia de los frentes de onda dispersados produce una distribución de motas (''speckles'') de luz en el área iluminada. Los datos recogidos son analizados para obtener la parte de la señal que corresponde al desplazamiento o deformación del punto de la muestra donde se hizo la medida. Después la señal es observada a través de un osciloscopio y luego transferida a un ordenador para obtener su espectro de amplitud.
Dos haces, con la misma intesidad, son enfocados en un punto de la superficie iluminando un área de alrededor de <math>20\mu m</math> de diametro. Entre los dos haces hay una diferencia de frecuencia (<math>\Delta\nu\approx 10^1Mhz</math>) (Dändliker & Willemin 1980) producida al hacer pasar la salida un laser a través de una rejilla acusto-óptica de Bragg. El haz láser es dividido en dos para luego irradiar la muestra con dos ángulos de incidencia iguales y opuestos a la normal de la superficie. La luz dispersada es detectada en la dirección del bisector del ángulo formado por los dos haces incidentes. Al ser un sistema heterodino, la frecuencia de la señal de interferencia resultante es igual a la diferencia entre las dos señales incidentes. La luz dispersada es detectada por un fotodiodo cuya apertura debe ser escogida de forma que al menos 100 speckles sean recogidos por el detector, así se asegura una suficiente potencia óptica media (Dändliker & Willemin 1980). El montaje para la medida por interferometría speckle para desplazamientos tangenciales (modo in-plane) se esquematiza en la siguiente figura:
[[Archivo:Montaje experimental interferometria speckle.png|frame|center|350px|Montaje experimental para la interferometría speckle]]
Al registrar el patrón speckle antes y después de la deformación:
<math>\begin{array}{rcl}
&&u=u_1(x,y)+u_2(x,y)\\
I(x, y) &=& u_{1}^{2}(x,y)+u_{2}^{2}(x,y)+2u_1(x,y)u_2(x,y)\cos(\theta(x,y))\\
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