Diferencia entre revisiones de «Microscopio de fuerza atómica»
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El '''[[Microscopio]] de fuerza atómica''' ('''AFM''', de sus siglas en inglés '''''A'''tomic '''F'''orce '''M'''icroscope'') es un instrumento mecano-óptico capaz de detectar fuerzas del orden de los [[piconewton]]s. Al rastrear una muestra, es capaz de registrar continuamente su [[topografía]] mediante una sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica. La sonda va acoplada a un listón o palanca microscópica muy flexible de sólo unos 200 µm. El microscopio de fuerza atómica ha sido esencial en el desarrollo de la [[nanotecnología]], para la caracterización y visualización de muestras a dimensiones nanométricas (<math>1 x 10^{-9} m = 1 nm</math>).
== Historia ==
[[Gerd Binnig]] y [[Heinrich Rohrer]] fueron galardonados con el [[Premio Nobel de Física]] en 1986 por su trabajo en microscopía de barrido de túnel. Binnig y Rohrer fueron reconocidos por el desarrollo de la técnica de microscopía poderosa, que puede formar una imagen de cada uno de los átomos sobre una superficie de metal o de semiconductores mediante el escaneo de la punta de una aguja sobre la superficie a una altitud de sólo unos pocos diámetros atómicos. Compartieron el premio con el científico alemán [[Ernst Rusa]], el diseñador del primer microscopio electrónico.[http://inventors.about.com/library/inventors/blstm.htm]
== Comparación del AFM con otros microscopios ==
=== Microscopio Óptico ===
El [[microscopio óptico]] es una herramienta muy útil para obtener imágenes de muestras orgánicas e inorgánicas, pero está limitado para una resolución de 1mm a 1 micra.
=== Microscopio electrónico ===
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