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Resumen
| Descripción |
English: Scheme 1: GISAXS scattering geometry. The incident beam strikes the sample under a small angle close to the critical angle of total external x-ray reflection. The intense reflected beam as well as the intense scattering in the incident plane are attenuated by a rod-shaped beam stop. The diffuse scattering from the sample is recorded with an area detector. As an example the scattering from a PSPB block copolymer film with perpendicular lamellae is shown in the detector plane. The two lobes of scattering correspond to the lateral lamellar period of about 80 nm. |
| Fecha | |
| Fuente | Trabajo propio |
| Autor | Smilgies |
Licencia
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| Fecha y hora | Miniatura | Dimensiones | Usuario | Comentario | |
|---|---|---|---|---|---|
| actual | 19:03 7 oct 2008 | | 384 × 384 (87 kB) | Smilgies | {{Information |Description={{en|1=Scheme 1: GISAXS scattering geometry. The incident beam strikes the sample under a small angle close to the critical angle od total external x-ray reflection. The intense reflected beam as well as the intense scattering i |
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