Archivo:Tollansky.pdf
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Resumen
| Descripción |
English: Principle idea of Tolansky-Method for measurement of layer thickness by interferometry. |
| Fecha | |
| Fuente | Trabajo propio |
| Autor | Safe cracker |
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| Fecha y hora | Miniatura | Dimensiones | Usuario | Comentario | |
|---|---|---|---|---|---|
| actual | 11:33 21 dic 2008 |  | 1583 × 1129 (69 kB) | Safe cracker | {{Information |Description={{en|1=Principle idea of Tolansky-Method for measurement of layer thickness by interferometry.}} |Source=Own work by uploader |Author=Safe cracker |Date=19.12.2008 |Permission= |other_versions= }} <!--{{Im |
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